BS-4020A trinokuláris ipari ostya ellenőrző mikroszkóp

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkópot kifejezetten különféle méretű lapkák és nagy PCB-k vizsgálatára tervezték. Ez a mikroszkóp megbízható, kényelmes és pontos megfigyelési élményt nyújt. A tökéletesen kivitelezett szerkezettel, nagyfelbontású optikai rendszerrel és ergonomikus operációs rendszerrel a BS-4020A professzionális elemzést végez, és megfelel a különféle kutatási és vizsgálati igényeknek ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb.


Termék részletek

Letöltés

Minőségellenőrzés

Termékcímkék

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp

Bevezetés

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkópot kifejezetten különféle méretű lapkák és nagy PCB-k vizsgálatára tervezték. Ez a mikroszkóp megbízható, kényelmes és pontos megfigyelési élményt nyújt. A tökéletesen kivitelezett szerkezettel, nagyfelbontású optikai rendszerrel és ergonomikus operációs rendszerrel a BS-4020 professzionális elemzést végez, és megfelel a különféle kutatási és vizsgálati igényeknek ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb.

1. Tökéletes mikroszkópos megvilágítási rendszer.

A mikroszkóp Kohler megvilágítással rendelkezik, világos és egyenletes megvilágítást biztosít az egész látómezőben. A NIS45 végtelen optikai rendszerrel, magas NA és LWD objektívvel összehangolva tökéletes mikroszkópos képalkotás biztosítható.

megvilágítás

Jellemzők

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp ostyatartó
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp állvány

Fényes mező a visszavert megvilágítással

A BS-4020A kiváló végtelen optikai rendszert alkalmaz. A látómező egységes, világos és magas színvisszaadási fokú. Alkalmas átlátszatlan félvezető minták megfigyelésére.

Sötét mező

Nagy felbontású képeket tud készíteni sötétmezős megfigyeléskor, és nagy érzékenységgel végzett vizsgálatok során a hibákat, például a finom karcolásokat. Alkalmas magas igényű minták felületi vizsgálatára.

Az átvitt megvilágítás világos mezője

Átlátszó minták, például FPD és optikai elemek esetében a fényes tér megfigyelése az áteresztett fény kondenzátorával valósítható meg. DIC-vel, egyszerű polarizációval és egyéb kiegészítőkkel is használható.

Egyszerű polarizáció

Ez a megfigyelési módszer alkalmas kettős törésű mintákra, például kohászati ​​szövetekre, ásványokra, LCD-re és félvezető anyagokra.

Visszavert megvilágítású DIC

Ezt a módszert a precíziós formák kis különbségeinek megfigyelésére használják. A megfigyelési technika dombornyomott és háromdimenziós képek formájában képes kimutatni azt az apró magasságkülönbséget, ami a hétköznapi megfigyelés során nem látható.

visszavert megvilágítás fényes mezője
Sötét mező
fényes mező képernyő
egyszerű polarizáció
10X DIC

2. Kiváló minőségű Semi-APO és APO Világos mező és Sötét mező objektívek.

A többrétegű bevonat technológia alkalmazásával a NIS45 sorozatú Semi-APO és APO objektívek kompenzálják a szférikus aberrációt és a kromatikus aberrációt az ultraibolya sugárzástól a közeli infravörösig. A képek élessége, felbontása és színvisszaadása garantálható. A kép nagy felbontású és lapos képpel különböző nagyításokhoz érhető el.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp objektív

3. A kezelőpanel a mikroszkóp elején található, kényelmesen kezelhető.

A mechanikus kezelőpanel a mikroszkóp elején (a kezelő közelében) található, ami gyorsabbá és kényelmesebbé teszi a műveletet a minta megfigyelésekor. És csökkentheti a hosszan tartó megfigyelés okozta fáradtságot és a nagy mozgási tartományból származó lebegő port.

előlap

4. Ergo dönthető trinokuláris nézőfej.

Az Ergo dönthető nézőfej kényelmesebbé teheti a megfigyelést, így minimálisra csökkenti a hosszú munkaórák okozta izomfeszülést és kényelmetlenséget.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp fej

5. Fókuszáló mechanizmus és finombeállító fogantyú a színpadon alacsony kézállással.

A fókuszáló mechanizmus és a színpad finombeállító fogantyúja az alacsony kézállású kialakítást alkalmazza, amely megfelel az ergonomikus kialakításnak. A felhasználónak nem kell felemelnie a kezét működés közben, ami a legnagyobb kényelmet nyújtja.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp oldala

6. A színpad beépített tengelykapcsoló fogantyúval rendelkezik.

A tengelykapcsoló fogantyú képes megvalósítani a színpad gyors és lassú mozgási módját, és gyorsan megtalálja a nagy területű mintákat. A színpad finombeállító fogantyújával együtt használva többé nem lesz nehéz megtalálni a mintákat gyorsan és pontosan.

7. A túlméretezett tárgyasztal (14”x 12”) használható nagy ostyákhoz és NYÁK-hoz.

A mikroelektronika és a félvezető minták, különösen az ostya területei általában nagyok, így a hagyományos metallográfiai mikroszkópos színpad nem tudja kielégíteni megfigyelési igényeiket. A BS-4020A túlméretezett színpaddal rendelkezik nagy mozgási tartománnyal, kényelmes és könnyen mozgatható. Így ideális eszköz nagy területű ipari minták mikroszkópos megfigyelésére.

8. 12”-os ostyatartó a mikroszkóphoz tartozik.

A 12”-os ostya és a kisebb méretű ostya megfigyelhető ezzel a mikroszkóppal, gyors és finom mozgású színpadfogantyúval nagymértékben javíthatja a munkavégzés hatékonyságát.

9. Az antisztatikus védőburkolat csökkentheti a port.

Az ipari mintáknak távol kell lenniük a lebegő portól, és egy kis por befolyásolhatja a termék minőségét és a vizsgálati eredményeket. A BS-4020A nagy felületű antisztatikus védőburkolattal rendelkezik, amely megakadályozza a lebegő port és a leeső port, így védi a mintákat és pontosabbá teszi a vizsgálati eredményt.

10. Hosszabb munkatávolság és magas NA objektív.

Az áramköri mintákon lévő elektronikus alkatrészek és félvezetők magassága különbözik. Ezért ezen a mikroszkópon nagy munkatávolságú objektíveket alkalmaztak. Eközben az ipari minták magas színvisszaadási követelményeinek kielégítése érdekében a többrétegű bevonat technológiáját az évek során fejlesztették és továbbfejlesztették, és elfogadták a BF&DF félig APO és APO objektívet magas NA-val, amelyek visszaállíthatják a minták valódi színét. .

11. Különféle megfigyelési módszerek különböző vizsgálati követelményeknek felelhetnek meg.

Megvilágítás

Fényes mező

Sötét mező

DIC

Fluoreszkáló fény

Polarizált fény

Visszavert megvilágítás

○

○

○

○

○

Átvitt megvilágítás

○

-

-

-

○

Alkalmazás

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkóp ideális eszköz különböző méretű lapkák és nagy méretű PCB-k vizsgálatához. Ez a mikroszkóp használható egyetemeken, elektronikai és chipgyárakban ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb. kutatására és vizsgálatára.

Specifikáció

Tétel Specifikáció BS-4020A BS-4020B
Optikai rendszer NIS45 végtelen színkorrekciós optikai rendszer (csőhossz: 200 mm) ● ●
Nézőfej Ergo dönthető trinokuláris fej, 0-35°-ban állítható, a pupilla távolsága 47-78 mm; felosztási arány Szemlencse: Trinokuláris=100:0 vagy 20:80 vagy 0:100 ● ●
Seidentopf trinokuláris fej, 30°-ban döntött, pupillatávolság: 47-78 mm; felosztási arány Szemlencse: Trinokuláris=100:0 vagy 20:80 vagy 0:100 ○ ○
Seidentopf binokuláris fej, 30°-ban döntött, pupillatávolság: 47-78 mm ○ ○
Szemlencse Szuper széles látószögű okulár SW10X/25mm, állítható dioptria ● ●
Szuper széles látószögű okulár SW10X/22mm, állítható dioptria ○ ○
Extra széles tereprajzú szemlencse EW12,5X/17,5mm, állítható dioptria ○ ○
Széles látószögű okulár WF15X/16mm, állítható dioptria ○ ○
Széles látószögű okulár WF20X/12mm, állítható dioptria ○ ○
Célkitűzés NIS45 végtelen LWD terv félig APO célkitűzés (BF & DF), M26 5X/NA=0,15, WD=20mm ● ●
10X/NA=0,3, WD=11mm ● ●
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm ● ●
NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF), M26 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm ● ●
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm ● ●
NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF), M25 5X/NA=0,15, WD=20mm ○ ○
10X/NA=0,3, WD=11mm ○ ○
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm ○ ○
NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF), M25 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm ○ ○
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm ○ ○
Orrrész Hátsó, hatszoros orrrész (DIC nyílással) ● ●
Kondenzátor LWD kondenzátor NA0.65 ○ ●
Átvitt megvilágítás 40W-os LED tápegység optikai szálas fényvezetővel, állítható erősségű ○ ●
Visszavert megvilágítás Visszavert fényű 24V/100W halogén lámpa, Koehler világítás, 6 állású toronnyal ● ●
100 W-os halogén lámpaház ● ●
Visszavert fény 5W LED lámpával, Koehler világítással, 6 állású toronnyal ○ ○
BF1 fényerejű modul ● ●
BF2 fényerejű modul ● ●
DF sötét mező modul ● ●
Beépített ND6, ND25 szűrő és színkorrekciós szűrő ○ ○
ECO funkció ECO funkció ECO gombbal ● ●
Összpontosítás Alacsony pozíciójú koaxiális durva és finom fókuszálás, finom elosztás 1 μm, mozgási tartomány 35 mm ● ●
Színpad 3 rétegű mechanikus színpad tengelykapcsoló fogantyúval, mérete 14”x12” (356mmx305mm); mozgási tartomány 356mmX305mm; Világítási terület áteresztő fényhez: 356x284mm. ● ●
Ostyatartó: 12”-os ostya tartására használható ● ●
DIC készlet DIC készlet a visszavert megvilágításhoz (10X, 20X, 50X, 100X objektívekhez használható) ○ ○
Polarizáló készlet Polarizátor a visszavert megvilágításhoz ○ ○
Analizátor a visszavert megvilágításhoz, 0-360°-ban forgatható ○ ○
Polarizátor átmenő megvilágításhoz ○ ○
Átvitt megvilágítás elemző ○ ○
Egyéb tartozékok 0,5X C-bemenetes adapter ○ ○
1X C-bemenetes adapter ○ ○
Porvédő ● ●
Tápkábel ● ●
Kalibráló szán 0,01 mm ○ ○
Mintanyomó ○ ○

Megjegyzés: ● Szabványos öltözet, ○ Opcionális

Mintakép

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta1
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta2
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta3
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta4
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta5

Dimenzió

BS-4020 méret

Mértékegysége: mm

Rendszer diagram

BS-4020 rendszerdiagram

Bizonyítvány

mhg

Logisztika

kép (3)

  • Előző:
  • Következő:

  • BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp

    kép (1) kép (2)