BS-4020A trinokuláris ipari ostya ellenőrző mikroszkóp

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkópot kifejezetten különféle méretű lapkák és nagy PCB-k vizsgálatára tervezték. Ez a mikroszkóp megbízható, kényelmes és pontos megfigyelési élményt nyújt. A tökéletesen kivitelezett szerkezettel, nagyfelbontású optikai rendszerrel és ergonomikus operációs rendszerrel a BS-4020A professzionális elemzést végez, és megfelel a különféle kutatási és vizsgálati igényeknek ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb.


Termék részletek

Letöltés

Minőségellenőrzés

Termékcímkék

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp

Bevezetés

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkópot kifejezetten különféle méretű lapkák és nagy PCB-k vizsgálatára tervezték. Ez a mikroszkóp megbízható, kényelmes és pontos megfigyelési élményt nyújt. A tökéletesen kivitelezett szerkezettel, nagyfelbontású optikai rendszerrel és ergonomikus operációs rendszerrel a BS-4020 professzionális elemzést végez, és megfelel a különféle kutatási és vizsgálati igényeknek ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb.

1. Tökéletes mikroszkópos megvilágítási rendszer.

A mikroszkóp Kohler megvilágítással rendelkezik, világos és egyenletes megvilágítást biztosít az egész látómezőben. A NIS45 végtelen optikai rendszerrel, magas NA és LWD objektívvel összehangolva tökéletes mikroszkópos képalkotás biztosítható.

megvilágítás

Jellemzők

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp ostyatartó
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp állvány

Fényes mező a visszavert megvilágítással

A BS-4020A kiváló végtelen optikai rendszert alkalmaz. A látómező egységes, világos és magas színvisszaadási fokú. Alkalmas átlátszatlan félvezető minták megfigyelésére.

Sötét mező

Nagy felbontású képeket tud készíteni sötétmezős megfigyeléskor, és nagy érzékenységgel végzett vizsgálatok során a hibákat, például a finom karcolásokat. Alkalmas magas igényű minták felületi vizsgálatára.

Az átvitt megvilágítás világos mezője

Átlátszó minták, például FPD és optikai elemek esetében a fényes tér megfigyelése az áteresztett fény kondenzátorával valósítható meg. DIC-vel, egyszerű polarizációval és egyéb kiegészítőkkel is használható.

Egyszerű polarizáció

Ez a megfigyelési módszer alkalmas kettős törésű mintákra, például kohászati ​​szövetekre, ásványokra, LCD-re és félvezető anyagokra.

Visszavert megvilágítású DIC

Ezt a módszert a precíziós formák kis különbségeinek megfigyelésére használják. A megfigyelési technika dombornyomott és háromdimenziós képek formájában képes kimutatni azt az apró magasságkülönbséget, ami a hétköznapi megfigyelés során nem látható.

visszavert megvilágítás fényes mezője
Sötét mező
fényes mező képernyő
egyszerű polarizáció
10X DIC

2. Kiváló minőségű Semi-APO és APO Világos mező és Sötét mező objektívek.

A többrétegű bevonat technológia alkalmazásával a NIS45 sorozatú Semi-APO és APO objektívek kompenzálják a szférikus aberrációt és a kromatikus aberrációt az ultraibolya sugárzástól a közeli infravörösig. A képek élessége, felbontása és színvisszaadása garantálható. A kép nagy felbontású és lapos képpel különböző nagyításokhoz érhető el.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp objektív

3. A kezelőpanel a mikroszkóp elején található, kényelmesen kezelhető.

A mechanikus kezelőpanel a mikroszkóp elején (a kezelő közelében) található, ami gyorsabbá és kényelmesebbé teszi a műveletet a minta megfigyelésekor. És csökkentheti a hosszan tartó megfigyelés okozta fáradtságot és a nagy mozgási tartományból származó lebegő port.

előlap

4. Ergo dönthető trinokuláris nézőfej.

Az Ergo dönthető nézőfej kényelmesebbé teheti a megfigyelést, így minimálisra csökkenti a hosszú munkaórák okozta izomfeszülést és kényelmetlenséget.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp fej

5. Fókuszáló mechanizmus és finombeállító fogantyú a színpadon alacsony kézállással.

A fókuszáló mechanizmus és a színpad finombeállító fogantyúja az alacsony kézállású kialakítást alkalmazza, amely megfelel az ergonomikus kialakításnak. A felhasználónak nem kell felemelnie a kezét működés közben, ami a legnagyobb kényelmet nyújtja.

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp oldala

6. A színpad beépített tengelykapcsoló fogantyúval rendelkezik.

A tengelykapcsoló fogantyú képes megvalósítani a színpad gyors és lassú mozgási módját, és gyorsan megtalálja a nagy területű mintákat. A színpad finombeállító fogantyújával együtt használva többé nem lesz nehéz megtalálni a mintákat gyorsan és pontosan.

7. A túlméretezett tárgyasztal (14”x 12”) használható nagy ostyákhoz és NYÁK-hoz.

A mikroelektronika és a félvezető minták, különösen az ostya területei általában nagyok, így a hagyományos metallográfiai mikroszkópos színpad nem tudja kielégíteni megfigyelési igényeiket. A BS-4020A túlméretezett színpaddal rendelkezik nagy mozgási tartománnyal, kényelmes és könnyen mozgatható. Így ideális eszköz nagy területű ipari minták mikroszkópos megfigyelésére.

8. 12”-os ostyatartó a mikroszkóphoz tartozik.

A 12”-os ostya és a kisebb méretű ostya megfigyelhető ezzel a mikroszkóppal, gyors és finom mozgású színpadfogantyúval nagymértékben javíthatja a munkavégzés hatékonyságát.

9. Az antisztatikus védőburkolat csökkentheti a port.

Az ipari mintáknak távol kell lenniük a lebegő portól, és egy kis por befolyásolhatja a termék minőségét és a vizsgálati eredményeket. A BS-4020A nagy felületű antisztatikus védőburkolattal rendelkezik, amely megakadályozza a lebegő port és a leeső port, így védi a mintákat és pontosabbá teszi a vizsgálati eredményt.

10. Hosszabb munkatávolság és magas NA objektív.

Az áramköri mintákon lévő elektronikus alkatrészek és félvezetők magassága különbözik. Ezért ezen a mikroszkópon nagy munkatávolságú objektíveket alkalmaztak. Eközben az ipari minták magas színvisszaadási követelményeinek kielégítése érdekében a többrétegű bevonat technológiáját az évek során fejlesztették és továbbfejlesztették, és elfogadták a BF&DF félig APO és APO objektívet magas NA-val, amelyek visszaállíthatják a minták valódi színét. .

11. Különféle megfigyelési módszerek különböző vizsgálati követelményeknek felelhetnek meg.

Megvilágítás

Fényes mező

Sötét mező

DIC

Fluoreszkáló fény

Polarizált fény

Visszavert megvilágítás

Átvitt megvilágítás

-

-

-

Alkalmazás

A BS-4020A ipari ellenőrző mikroszkóp ideális eszköz különböző méretű lapkák és nagy méretű PCB-k vizsgálatához. Ez a mikroszkóp használható egyetemeken, elektronikai és chipgyárakban ostyák, FPD, áramköri csomagok, PCB, anyagtudomány, precíziós öntés, fémkerámia, precíziós öntőforma, félvezető és elektronika stb. kutatására és vizsgálatára.

Specifikáció

Tétel Specifikáció BS-4020A BS-4020B
Optikai rendszer NIS45 végtelen színkorrekciós optikai rendszer (csőhossz: 200 mm)
Nézőfej Ergo dönthető trinokuláris fej, 0-35°-ban állítható, a pupilla távolsága 47-78 mm; felosztási arány Szemlencse: Trinokuláris=100:0 vagy 20:80 vagy 0:100
Seidentopf trinokuláris fej, 30°-ban döntött, pupillatávolság: 47-78 mm; felosztási arány Szemlencse: Trinokuláris=100:0 vagy 20:80 vagy 0:100
Seidentopf binokuláris fej, 30°-ban döntött, pupillatávolság: 47-78 mm
Szemlencse Szuper széles látószögű okulár SW10X/25mm, állítható dioptria
Szuper széles látószögű okulár SW10X/22mm, állítható dioptria
Extra széles tereprajzú szemlencse EW12,5X/17,5mm, állítható dioptria
Széles látószögű okulár WF15X/16mm, állítható dioptria
Széles látószögű okulár WF20X/12mm, állítható dioptria
Célkitűzés NIS45 végtelen LWD terv félig APO célkitűzés (BF & DF), M26 5X/NA=0,15, WD=20mm
10X/NA=0,3, WD=11mm
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm
NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF), M26 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm
NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF), M25 5X/NA=0,15, WD=20mm
10X/NA=0,3, WD=11mm
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm
NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF), M25 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm
Orrrész Hátsó, hatszoros orrrész (DIC nyílással)
Kondenzátor LWD kondenzátor NA0.65
Átvitt megvilágítás 40W-os LED tápegység optikai szálas fényvezetővel, állítható erősségű
Visszavert megvilágítás Visszavert fényű 24V/100W halogén lámpa, Koehler világítás, 6 állású toronnyal
100 W-os halogén lámpaház
Visszavert fény 5W LED lámpával, Koehler világítással, 6 állású toronnyal
BF1 fényerejű modul
BF2 fényerejű modul
DF sötét mező modul
Beépített ND6, ND25 szűrő és színkorrekciós szűrő
ECO funkció ECO funkció ECO gombbal
Összpontosítás Alacsony pozíciójú koaxiális durva és finom fókuszálás, finom elosztás 1 μm, mozgási tartomány 35 mm
Színpad 3 rétegű mechanikus színpad tengelykapcsoló fogantyúval, mérete 14”x12” (356mmx305mm); mozgási tartomány 356mmX305mm; Világítási terület áteresztő fényhez: 356x284mm.
Ostyatartó: 12”-os ostya tartására használható
DIC készlet DIC készlet a visszavert megvilágításhoz (10X, 20X, 50X, 100X objektívekhez használható)
Polarizáló készlet Polarizátor a visszavert megvilágításhoz
Analizátor a visszavert megvilágításhoz, 0-360°-ban forgatható
Polarizátor átmenő megvilágításhoz
Átvitt megvilágítás elemző
Egyéb tartozékok 0,5X C-bemenetes adapter
1X C-bemenetes adapter
Porvédő
Tápkábel
Kalibráló szán 0,01 mm
Mintanyomó

Megjegyzés: ● Szabványos öltözet, ○ Opcionális

Mintakép

BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta1
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta2
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta3
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta4
BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp minta5

Dimenzió

BS-4020 méret

Mértékegysége: mm

Rendszer diagram

BS-4020 rendszerdiagram

Bizonyítvány

mhg

Logisztika

kép (3)

  • Előző:
  • Következő:

  • BS-4020 ipari ellenőrző mikroszkóp

    kép (1) kép (2)